| EB-PVD制备YSZ涂层的氧空位和晶体学织构表征 |
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| 引用本文： | 孟彬,孙跃,赫晓东,李明伟.EB-PVD制备YSZ涂层的氧空位和晶体学织构表征[J].材料科学与工艺,2007,15(6):770-773. |
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| 作者姓名： | 孟彬 孙跃 赫晓东 李明伟 |
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| 作者单位： | 哈尔滨工业大学,复合材料与结构研究所,黑龙江,哈尔滨,150001 |
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| 摘 要： | 为探索电子束物理气相沉积(EB-PVD)制备YSZ涂层的显微组织结构特征,采用大功率EB-PVD设备制备了20 μm厚的YSZ涂层.分别利用X射线荧光光谱(XRF)和X射线衍射(XRD)技术分析了涂层的化学成分和物相组成,并进一步采用X射线面探扫描技术对涂层的织构进行了表征.分析结果表明,涂层材料具有典型的立方萤石型结构,且表现出择优取向特征,空气气氛中1273 K退火前后XRD峰位的偏移以及退火后O元素沿断面的浓度分布均表明制备过程中在涂层的晶格内形成了额外的氧空位.
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| 关 键 词： | 电子束物理气相沉积 YSZ涂层 氧空位 织构表征 面探X射线衍射 涂层材料 氧空位 晶体学织构 表征 coating characterization crystallographic texture vacancy 晶格 制备过程 浓度分布 断面 元素 退火 空气气氛 取向特征 表现 萤石型结构 结果 技术分析 |
| 文章编号： | 1005-0299（2007）06-0770-04 |
| 收稿时间： | 2006-10-12 |
| 修稿时间： | 2006年10月12 |
Oxygen vacancy and crystallographic texture characterization of YSZ coating prepared by EB-PVD |
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| MENG Bin,SUN Yue,HE Xiao-dong,LI Ming-wei.Oxygen vacancy and crystallographic texture characterization of YSZ coating prepared by EB-PVD[J].Materials Science and Technology,2007,15(6):770-773. |
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| Authors: | MENG Bin SUN Yue HE Xiao-dong LI Ming-wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | EB -PVD YSZ coating oxygen vacancy texture characterization XRD with an area detector |
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