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主管单位 中华人民共和国
工业和信息化部
主办单位 哈尔滨工业大学 主编 李隆球 国际刊号ISSN 0367-6234 国内刊号CN 23-1235/T

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引用本文:李姗,骆培,安军社.航天器综合电子系统通用测试系统设计[J].哈尔滨工业大学学报,2014,46(9):92.DOI:10.11918/j.issn.0367-6234.2014.09.016
LI Shan,LUO Pei,AN Junshe.Universal test system design for the spacecraft electronic system[J].Journal of Harbin Institute of Technology,2014,46(9):92.DOI:10.11918/j.issn.0367-6234.2014.09.016
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航天器综合电子系统通用测试系统设计
李姗1,2, 骆培3, 安军社2
(1.中国科学院大学, 100049 北京; 2.中国科学院 空间科学与应用研究中心, 100190 北京; 3.波士顿大学 电子与计算机工程系, 02215 波士顿, 美国)
摘要:
提出了一种接口丰富、可重构扩展的模块化通用测试系统方案.引入开放式柔性测试系统设计方法,基础测试模块使用FPGA作为控制核心,以保证系统硬件柔性化;系统软件采用分层模块化方法设计,通过转换层统一操作系统的接口,以保证系统软件柔性化.并应用PC/104 PLUS与以太网两种总线技术,将测试模块灵活组合成3种本地测试节点模型.本地测试设备以节点的形式通过光纤网络接入测试系统,实现分布式测试系统网络,增强系统兼容性与应用范围,同时保证数据传输安全.真空罐测试和多设备联合测试实验表明该系统有能力适应不同型号任务、不同阶段、不同测试场景的综合电子系统测试工作.
关键词:  通用测试系统  开放式柔性测试系统  分布式系统  可重构
DOI:10.11918/j.issn.0367-6234.2014.09.016
分类号:TP 274
基金项目:中国科学院战略性先导科技专项资助项目(XDA04060300).
Universal test system design for the spacecraft electronic system
LI Shan1,2, LUO Pei3, AN Junshe2
(1. University of Chinese Academy of Sciences, 100049 Beijing, China; 2. National Space Science Center, Chinese Academy of Sciences, 100190 Beijing, China; 3. Electrical & Computer Engineering, Boston University, 02215 Boston, USA)
Abstract:
This paper proposes a scalable, reconfigurable, general test system design oriented the spacecraft electronic system. The design employs open flexible test system design method. Common test interfaces are integrated into classified modules with FPGA as control core, which ensures the reconfigurability of hardware. Software utilizes modularized pattern. Application program interacts with the operating system through transfer layer which ensures reusability of software. All modules can be combined into three local testing machine models using the PC/104 PLUS and Ethernet. The optical fiber transmission technology is employed to combine all the local testing machine models into a distributed testing system. This system is compatible, universal, and secure. Vacuum tank test and multi-device joint test show that the system is competent for all kinds of electronic system testing in different scenarios.
Key words:  universal test system  open flexible test system  distributed systems  reconfigurability

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